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Fast Lane-Level Intersection Estimation using Markov Chain Monte Carlo Sampling and B-Spline Refinement

Meyer, Annika; Walter, Jonas; Lauer, Martin

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IV47402.2020.9304760
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-7281-6673-5
KITopen-ID: 1000130056
Erschienen in 2020 IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV), 19 October - 13 November 2020, online
Veranstaltung 31st IEEE Intelligent Vehicles Symposium (2020), Online, 19.10.2020 – 13.11.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 71-76
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