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Real-time stress evolution during laser surface line hardening at varying maximum surface temperatures using synchrotron X-ray diffraction

Kiefer, D.; Simon, N. ORCID iD icon; Beckmann, F.; Wilde, F.; Gibmeier, J.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.optlastec.2021.106964
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0030-3992
KITopen-ID: 1000130295
Erschienen in Optics & laser technology
Verlag Elsevier
Band 140
Seiten 106964
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