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A Multistatic Uniform Diffraction Tomographic Algorithm for Real-Time Moisture Detection

Omrani, Adel; Link, Guido; Jelonnek, John



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/APMC47863.2020.9331603
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 12.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72816-962-0
KITopen-ID: 1000130376
Erschienen in 2020 IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)
Veranstaltung Asia-Pacific Microwave Conference (APMC 2020 2020), Online, 08.12.2020 – 11.12.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 437–439
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Relationen in KITopen
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