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DC breakdown tests with pressurized liquid nitrogen

Fink, Stefan; Zwecker, Volker



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICD46958.2020.9342003
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72818-983-3
KITopen-ID: 1000130640
Erschienen in 2020 IEEE 3rd International Conference on Dielectrics (ICD), 6-31 July, online
Veranstaltung 3rd International Conference on Dielectrics (ICD 2020), Online, 06.07.2020 – 31.07.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 93-96
Nachgewiesen in Scopus
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