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Effects of Chemical Mechanical Polishing on the Laser Induced Damage Threshold of ZnGeP₂

Muller, Olivier; Hildenbrand, Anne; Kieleck, Christelle; Berrou, Antoine; Moitrier, Florence; Eichhorn, Marc; Ackermann, Lothar; Wenzel, S.; Dupré, Klaus; Wenzel, B.; Petit, Johan; Rame, J.; Melkonian, Jean-Michel; Raybaut, M.; Dherbecourt, J. B.; Godard, Antoine



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Regelungs- und Steuerungssysteme (IRS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000130715
Erschienen in 6th EPS-QEOD Europhoton Conference
Veranstaltung 6th EPS-QEOD Europhoton Conference "Solid-State and Fiber Coherent Light Sources" (EUROPHOTON 2014), Neuenburg, Schweiz, 24.08.2014 – 29.08.2014
Externe Relationen Siehe auch
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