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Fast and Efficient High-Sigma Yield Analysis and Optimization using Kernel Density Estimation on a Bayesian Optimized Failure Rate Model

Weller, Dennis D.; Hefenbrock, Michael; Beigl, Michael; Tahoori, Mehdi B.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2022
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000130920
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 41
Heft 3
Seiten 695 - 708
Vorab online veröffentlicht am 08.03.2021
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