Fast and Efficient High-Sigma Yield Analysis and Optimization using Kernel Density Estimation on a Bayesian Optimized Failure Rate Model
Weller, Dennis D.; Hefenbrock, Michael; Beigl, Michael
; Tahoori, Mehdi B.
; Tahoori, Mehdi B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070, 1937-4151 KITopen-ID: 1000130920 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 41 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 695 - 708 |
| Vorab online veröffentlicht am | 08.03.2021 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |