KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fast and Efficient High-Sigma Yield Analysis and Optimization using Kernel Density Estimation on a Bayesian Optimized Failure Rate Model

Weller, Dennis D.; Hefenbrock, Michael; Beigl, Michael; Tahoori, Mehdi B.

Open Access Logo


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2021.3064440
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070, 1937-4151
KITopen-ID: 1000130920
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Vorab online veröffentlicht am 08.03.2021
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page