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On the Resiliency of NCFET Circuits Against Voltage Over-Scaling

Paim, Guilherme; Zervakis, Georgios; Pahwa, Girish; Chauhan, Yogesh Singh; Costa, Eduardo Antônio Ceśar da; Bampi, Sergio; Henkel, Jörg; Amrouch, Hussam

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSI.2021.3058451
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1549-8328, 1057-7122, 1558-0806, 1558-1268
KITopen-ID: 1000130936
Erschienen in IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 68
Heft 4
Seiten 1481-1492
Nachgewiesen in Scopus
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