On the Resiliency of NCFET Circuits Against Voltage Over-Scaling
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1549-8328, 1057-7122, 1558-0806, 1558-1268 KITopen-ID: 1000130936 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 68 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 1481-1492 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |