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Impact of Self-Heating on Negative-Capacitance FinFET: Device-Circuit Interaction

Prakash, Om; Pahwa, Girish; Dabhi, Chetan K.; Chauhan, Yogesh S.; Amrouch, Hussam

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TED.2021.3059180
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9383, 0096-2430, 0197-6370, 1557-9646, 2379-8653, 2379-8661
KITopen-ID: 1000131074
Erschienen in IEEE Transactions on Electron Devices
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 68
Heft 4
Seiten 1420-1424
Nachgewiesen in Scopus
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