Impact of Self-Heating on Negative-Capacitance FinFET: Device-Circuit Interaction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9383, 0096-2430, 0197-6370, 1557-9646, 2379-8653, 2379-8661 KITopen-ID: 1000131074 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Electron Devices |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 68 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 1420-1424 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |