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On the Reliability of FeFET On-Chip Memory

Genssler, Paul R.; Van Santen, Victor; Henkel, Jorg; Amrouch, Hussam

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TC.2021.3066899
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9340, 1557-9956, 2326-3814
KITopen-ID: 1000131179
Erschienen in IEEE Transactions on Computers
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Scopus
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