On the Reliability of FeFET On-Chip Memory
Genssler, Paul R.; Van Santen, Victor
; Henkel, Jorg; Amrouch, Hussam
; Henkel, Jorg; Amrouch, Hussam| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 17.04.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9340, 1557-9956, 2326-3814 KITopen-ID: 1000131179 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Computers |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 71 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 947-958 |
| Vorab online veröffentlicht am | 17.02.2021 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |