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First measurements of NbN based KIDs for polarimetric plasma diagnostics

Mazzocchi, F.; Strauss, D.; Scherer, T.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IRMMW-THz46771.2020.9370537
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 11.2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72816-620-9
KITopen-ID: 1000131508
Erschienen in 2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), 8-13 November 2020, online
Veranstaltung 45th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz 2020), Online, 08.11.2020 – 13.11.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Scopus
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