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Correction and verification of x-ray imaging crystal spectrometer analysis on Wendelstein 7-X through x-ray ray tracing

W7-X Team; Pablant, N. A.; Langenberg, A.; Alonso, J. A.; Bitter, M.; Bozhenkov, S. A.; Ford, O. P.; Hill, K. W.; Kring, J.; Marchuck, O.; Svensson, J.; Traverso, P.; Windisch, T.; Yakusevitch, Y.; Gantenbein, Gerd; Huber, Martina; Illy, Stefan; Jelonnek, John; Kobarg, Thorsten; Lang, Rouven; Leonhardt, Wolfgang; ... mehr

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/5.0043513
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 04.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748, 1089-7623
KITopen-ID: 1000131701
HGF-Programm 31.13.02 (POF IV, LK 01) Plasma Heating & Current Drive Systems
Erschienen in Review of scientific instruments
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 92
Heft 4
Seiten Article no: 043530
Projektinformation EUROfusion (EU, H2020, 633053)
Nachgewiesen in Scopus
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