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Phasenkontrast-Transmissionselektronenmikroskopie mit Dünnfilm- und elektrostatischen Phasenplatten

Obermair, Martin

Abstract:

Phasenplatten (PP) für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ermöglichen die kontrastreiche Abbildung von Phasenobjekten. In der vorliegenden Arbeit wurden die kontraststeigernden Eigenschaften und Abbildungsartefakte elektrostatischer Zach-PP, lochfreier Dünnfilm-PP und Zernike-PP anhand experimenteller und simulierter Abbildungen untersucht. Als Modellobjekt diente eine biologische Probe (Bakteriophagen). Erstmals gelang im Rahmen dieser Arbeit auch die dreidimensionale Rekonstruktion der Struktur eines biologischen Objekts durch Tomografie mit Zach-PP-TEM-Abbildungen. ... mehr

Abstract (englisch):

Phase plates (PP) for transmission electron microscopy (TEM) enable imaging of phase objects with high contrast. In this work, the contrast-enhancing capabilities and artifacts of electrostatic Zach-PP, hole-free thin-film PP and Zernike PP were analyzed by experimental and simulated images of a biological model sample (bacteriophages). The threedimensional structure reconstruction of a biological object was obtained for the first time by tomography on the basis of Zach-PP TEM images. Moreover, the reduction of intensity oscillations (“fringing” artifacts) around imaged objects in Zernike-PP TEM images was achieved by a microstructured thickness gradient at the edge of the Zernike-PP hole.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000131823
Veröffentlicht am 28.04.2021
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 28.04.2021
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000131823
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang XI, 190 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdatum 19.02.2021
Schlagwörter Transmissionselektronenmikroskopie, Phasenkontrast, Elektrostatische Phasenplatten, Dünnfilm-Phasenplatten, Mikrostrukturierung, Kryo-Elektronenmikroskopie, Elektronentomografie
Referent/Betreuer Gerthsen, D.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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