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Engineered nanostructures characterization by spectral interferometric microscopy

Symeonidis, Michail; Suryadharma, Radius N. S.; Grillo, Rossella; Scharf, Toralf; Rockstuhl, Carsten; Bürgi, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 03.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-2497-9
KITopen-ID: 1000132330
Erschienen in Photonic and Phononic Properties of Engineered Nanostructures IX. Ed.: A. Adibi
Veranstaltung SPIE Photonics West (OPTO 2019), San Francisco, CA, USA, 02.02.2019 – 07.02.2019
Verlag SPIE
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