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Workload-aware Electromigration Analysis in Emerging Spintronic Memory Arrays

Nair, Sarath M. 1; Mayahinia, Mahta 1; Tahoori, Mehdi B. 1; Perumkunnil, Manu; Zahedmanesh, Houman; Croes, Kristof; Garello, Kevin; Marinelli, Tommaso; Evenblij, Timon; Kar, Gouri Sankar; Catthoor, Francky
1 Institut für Technische Informatik (ITEC), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TDMR.2021.3074251
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1530-4388, 1558-2574
KITopen-ID: 1000132374
Erschienen in IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 21
Heft 2
Seiten 258 - 266
Vorab online veröffentlicht am 20.04.2021
Nachgewiesen in Dimensions
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