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Analytical determination of the complex refractive index and the incident angle of an optically isotropic substrate by ellipsometric parameters and reflectance

Chen, Chia-Wei 1; Hartrumpf, Matthias; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsdatum 01.08.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6935, 1539-4522, 1540-8981, 1559-128X, 2155-3165
KITopen-ID: 1000133339
Erschienen in Applied optics
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 60
Heft 22
Seiten F33–F38
Vorab online veröffentlicht am 21.05.2021
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