PHIL Testing Experience at KIT: Experimental Validations of New Technologies
Hubschneider, Sebastian; Waczowicz, S.
; Wiegel, F.
; Karrari, S.; Sousa, W. T. B. de
; Carne, G. de
; Geisbüsch, J.; Hiller, Marc; Leibfried, T.; Hagenmeyer, V.; Noe, M.
; Wiegel, F.
; Karrari, S.; Sousa, W. T. B. de
; Carne, G. de
; Geisbüsch, J.; Hiller, Marc; Leibfried, T.; Hagenmeyer, V.; Noe, M.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Elektrotechnisches Institut (ETI) Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsdatum | 18.06.2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000133429 |
| Veranstaltung | RT20: Opal-RT's 12th Conference on Real-Time Simulation (2020), Online, 18.06.2020 |