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PHIL Testing Experience at KIT: Experimental Validations of New Technologies

Hubschneider, Sebastian; Waczowicz, S. ORCID iD icon; Wiegel, F.; Karrari, S.; Sousa, W. T. B. de; De Carne, G. ORCID iD icon; Geisbüsch, J.; Hiller, M.; Leibfried, T.; Hagenmeyer, V.; Noe, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI)
Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 18.06.2020
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000133429
Veranstaltung RT20: Opal-RT's 12th Conference on Real-Time Simulation (2020), Online, 18.06.2020
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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