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Process-Induced Variability of ${\rm Nb/Al}/{\rm AlO}_{\rm x}/{\rm Nb}$ Junctions in Superconductor Integrated Circuits and Protection Against It

Tolpygo, S. K.; Amparo, D.; Yohannes, D. T.; Meckbach, M.; Kirichenko, A. F.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2009.2018253
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Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2009
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1051-8223, 1558-2515
KITopen-ID: 1000133775
Erschienen in IEEE transactions on applied superconductivity
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 19
Heft 3
Seiten 135–139
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