Process-Induced Variability of ${\rm Nb/Al}/{\rm AlO}_{\rm x}/{\rm Nb}$ Junctions in Superconductor Integrated Circuits and Protection Against It
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1051-8223, 1558-2515 KITopen-ID: 1000133775 |
| Erschienen in | IEEE transactions on applied superconductivity |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 19 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 135–139 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |