High-resolution for IAXO: MMC-based X-ray detectors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000133888 |
| HGF-Programm | 54.12.01 (POF IV, LK 01) Detection and Measurement |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 16 |
| Heft | 06 |
| Seiten | P06006 |
| Vorab online veröffentlicht am | 11.06.2021 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |