KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

High-resolution for IAXO: MMC-based X-ray detectors

Unger, D.; Abeln, A.; Enss, C.; Fleischmann, A.; Hengstler, D.; Kempf, S.; Gastaldo, L.

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000133888
HGF-Programm 54.12.01 (POF IV, LK 01) Detection and Measurement
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 16
Heft 06
Seiten P06006
Vorab online veröffentlicht am 11.06.2021
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
OpenAlex
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 7 – Bezahlbare und saubere Energie

Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/16/06/P06006
Scopus
Zitationen: 12
Web of Science
Zitationen: 10
Dimensions
Zitationen: 13
Seitenaufrufe: 138
seit 16.06.2021
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page