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High-resolution for IAXO: MMC-based X-ray detectors

Unger, D.; Abeln, A.; Enss, C.; Fleischmann, A.; Hengstler, D.; Kempf, S.; Gastaldo, L.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/16/06/P06006
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000133888
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 16
Heft 06
Seiten P06006
Vorab online veröffentlicht am 11.06.2021
Nachgewiesen in Dimensions
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