Single-shot grating-based phase-contrast imaging of a micrometer sample at a laser-driven x-ray backlighter source

Akstaller, B.; Schreiner, S.; Hofmann, F.; Meyer, P.; Neumayer, P.; Schuster, M.; Wolf, A.; Zielbauer, B.; Ludwig, V.; Michel, T.; Anton, G.; Funk, S.

doi:10.1088/1748-0221/16/06/P06021

Single-shot grating-based phase-contrast imaging of a micrometer sample at a laser-driven x-ray backlighter source

Akstaller, B.; Schreiner, S.; Hofmann, F.; Meyer, P. ¹; Neumayer, P.; Schuster, M.; Wolf, A.; Zielbauer, B.; Ludwig, V.; Michel, T.; Anton, G.; Funk, S.
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/16/06/P06021

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	06.2021
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000134495
HGF-Programm	43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Erschienen in	Journal of Instrumentation
Verlag	Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band	16
Heft	06
Seiten	Articel: P06021
Vorab online veröffentlicht am	21.06.2021
Schlagwörter	Proposal 2019-022-026974: DLW, EBL, XRL
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus

Repository KITopen

Single-shot grating-based phase-contrast imaging of a micrometer sample at a laser-driven x-ray backlighter source