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Single-shot grating-based phase-contrast imaging of a micrometer sample at a laser-driven x-ray backlighter source

Akstaller, B.; Schreiner, S.; Hofmann, F.; Meyer, P. 1; Neumayer, P.; Schuster, M.; Wolf, A.; Zielbauer, B.; Ludwig, V.; Michel, T.; Anton, G.; Funk, S.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/16/06/P06021
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000134495
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 16
Heft 06
Seiten Articel: P06021
Vorab online veröffentlicht am 21.06.2021
Schlagwörter Proposal 2019-022-026974: DLW, EBL, XRL
Nachgewiesen in Dimensions
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