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On the Reliability of In-Memory Computing: Impact of Temperature on Ferroelectric TCAM

Thomann, Simon; Li, Chao; Zhuo, Cheng; Prakash, Om; Yin, Xunzhao; Hu, Xiaobo Sharon; Amrouch, Hussam


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VTS50974.2021.9441038
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Zitationen: 6
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Zitationen: 8
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66541-949-9
KITopen-ID: 1000134682
Erschienen in 2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS)
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–6
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