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Reliability-Driven Voltage Optimization for NCFET-based SRAM Memory Banks

Santen, Victor M. van; Thomann, Simon; Chauchan, Yogesh S.; Henkel, Jorg; Amrouch, Hussam


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VTS50974.2021.9441053
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66541-949-9
KITopen-ID: 1000134684
Erschienen in 2021 IEEE 39th VLSI Test Symposium (VTS)
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–7
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