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Soft Errors in Negative Capacitance FDSOI SRAMs

Bajpai, Govind; Gupta, Aniket; Prakash, Om; Chauhan, Yogesh S.; Amrouch, Hussam


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/EDTM50988.2021.9421043
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 04.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72818-176-9
KITopen-ID: 1000134686
Erschienen in 2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1–3
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