On the Critical Role of Ferroelectric Thickness for Negative Capacitance Transistor Optimization
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 04.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72818-176-9 KITopen-ID: 1000134687 |
| Erschienen in | 2021 5th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–3 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |