Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsdatum | 30.06.2021 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5106-4408-3 ISSN: 0038-7355, 0361-0748, 0277-786X, 1996-756X KITopen-ID: 1000135075 |
Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision IV, Online only, June 21 - 25, 2021. Ed.: J. Beyerer |
Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2021), Online, 21.06.2021 – 25.06.2021 |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | Article no: 117870K |
Serie | Proceedings of SPIE ; 11787 |
Schlagwörter | multispectral imaging, complementary filters, EMVA 1288 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |