| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsdatum | 30.06.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-4408-3 ISSN: 0038-7355, 0361-0748, 0277-786X, 1996-756X KITopen-ID: 1000135075 |
| Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision IV, Online only, June 21 - 25, 2021. Ed.: J. Beyerer |
| Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2021), Online, 21.06.2021 – 25.06.2021 |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | Article no: 117870K |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 11787 |
| Schlagwörter | multispectral imaging, complementary filters, EMVA 1288 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |