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Externe Wissensintegration und das Not-Invented-Here Syndrom: Eine empirische Analyse der Reduktion negativer Einstellungen in Bezug auf externes Wissen im Organisationskontext

Hampel, Tim

Abstract:
Unter Schlagworten wie Open Innovation, Crowdsourcing oder Co-Creation haben Unternehmen in den vergangenen Jahren verstärkt damit begonnen, ihren Innovationsprozess zu öffnen. Hierdurch erhoffen sich Unternehmen, Wissen externer Akteure zu identifizieren und für kommerzielle Zwecke nutzbar zu machen. Jedoch deuten vermehrt Beispiele der Praxis sowie der Literatur darauf hin, dass der erfolgreichen Absorption externen Wissens zahlreiche Barrieren gegenüberstehen und Open Innovation nicht per se zu einer gesteigerten Innovations- und Wettbewerbsfähigkeit führt. Die hierbei innerhalb der Literatur des Innovationsmanagements am häufigsten zitierte Barriere, welche die Integration externen Wissens verlangsamt oder aufhält, ist das Not-Invented-Here (NIH) Syndrom. Das NIH Syndrom bezeichnet eine negative Einstellung von Organisationsmitgliedern gegenüber extern generiertem Wissen, das ungeachtet seines ökonomischen Wertes systematisch abgewertet oder abgelehnt wird. Für Organisationen führt dies zu wirtschaftlichen Beeinträchtigungen, wenn externes Wissen abgelehnt oder nicht ausreichend genutzt wird, obwohl es potenziell von ökonomischem Wert ist. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000135306
Veröffentlicht am 15.07.2021
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Entrepreneurship, Technologie-Management und Innovation (ENTECHNON)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 15.07.2021
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000135306
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang VIII, 258 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Wirtschaftswissenschaften (WIWI)
Institut Institut für Entrepreneurship, Technologie-Management und Innovation (ENTECHNON)
Prüfungsdatum 12.07.2021
Schlagwörter Not-Invented-Here; Externes Wissen; Open Innovation
Referent/Betreuer Weissenberger-Eibl, M.
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