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Optical Arbitrary Waveform Measurement (OAWM) on the Silicon Photonic Platform

Fang, D.; Zazzi, A.; Mueller, J.; Drayss, D.; Fuellner, C.; Marin-Palomo, P.; Mashayekh, A. T.; Das, A. D.; Weizel, M.; Gudyriev, S.; Freude, W.; Randel, S.; Scheytt, J. C.; Witzens, J.; Koos, C.

Abstract (englisch):
We demonstrate optical arbitrary waveform measurement (OAWM) using a silicon pho-tonic spectral slicer. Exploiting maximal-ratio combining (MRC), we demonstrate the viability of the scheme by reconstructing 100-GBd 64QAM signals with high quality.


Preprint §
DOI: 10.5445/IR/1000135495
Veröffentlicht am 20.07.2021
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OFC.2021.F2E.6
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsdatum 06.06.2021
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000135495
Erschienen in Optical Fiber Communication Conference, in Proceedings Optical Fiber Communication Conference (OFC) 2021: 6–11 June 2021, Washington, DC, United States
Veranstaltung Optical Fiber Communications Conference and Exhibition (OFC 2021), Online, 07.06.2021 – 11.06.2021
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Seiten Art.-Nr.: F2E.G
Serie OSA Technical Digest
Schlagwörter DFG PACE (no. 403188360) TeraSlice (no. 863322) TeraSHAPE (no. 773248) Alfried Krupp von Bohlen und Halbach-Stiftung Max-Planck School of Photonics (MPSP)
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