A Cluster-Based and Drop-aware Extension of RPL to Provide Reliability in IoT Applications
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66544-439-2 KITopen-ID: 1000136484 |
| Erschienen in | 2021 IEEE International Systems Conference (SysCon): April 15-May 15, 2021 ; virtual conference |
| Veranstaltung | 15th IEEE International Systems Conference (SysCon 2021), Online, 15.04.2021 – 15.05.2021 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |