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Embedded Machine Learning for Machine Condition Monitoring

Grethler, Michael; Marinov, M. B.; Klumpp, V.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/978-3-030-78459-1_16
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Zitationen: 3
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Informationsmanagement im Ingenieurwesen (IMI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1867-8211
KITopen-ID: 1000136487
Erschienen in Future Access Enablers for Ubiquitous and Intelligent Infrastructures: 5th EAI International Conference, FABULOUS 2021, Virtual Event, May 6–7, 2021, Proceedings. Ed.: D. Perakovic
Veranstaltung 5th EAI International Conference on Future Access Enablers for Ubiquitous and Intelligent Infrastructures (FABULOUS 2021), Online, 06.05.2021 – 07.05.2021
Verlag Springer
Seiten 217-228
Serie Lecture Notes of the Institute for Computer Sciences, Social-Informatics and Telecommunications Engineering (LNICST) ; 382
Nachgewiesen in Scopus
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