Defect Detection in Transparent Printed Electronics Using Learning-Based Optical Inspection
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Innovations- und Relationsmanagement (IRM) Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1063-8210, 1557-9999 KITopen-ID: 1000136961 |
| HGF-Programm | 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 29 |
| Heft | 8 |
| Seiten | 1505 - 1517 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |