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Defect Detection in Transparent Printed Electronics Using Learning-Based Optical Inspection

Erozan, Ahmet Turan 1; Bosse, Simon 2; Tahoori, Mehdi B. 2,3
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Innovations- und Relationsmanagement (IRM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2021.3082476
Scopus
Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Innovations- und Relationsmanagement (IRM)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000136961
HGF-Programm 43.31.02 (POF IV, LK 01) Devices and Applications
Erschienen in IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 29
Heft 8
Seiten 1505 - 1517
Nachgewiesen in Scopus
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