Development of a new topographical parameter set for characterizing textured rough surfaces
Yue, Hongzhi 1; Deng, Jianxin; Schneider, Johannes
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1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2051-672X KITopen-ID: 1000137029 |
| Erschienen in | Surface Topography: Metrology and Properties |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 9 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 035013 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |