A phase-sampling method for an X-ray Talbot-Lau scanner with continuous grating movement
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000137131 |
| HGF-Programm | 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 15 |
| Heft | 01 |
| Seiten | Art.-Nr.: P01010 |
| Vorab online veröffentlicht am | 15.01.2020 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |