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A phase-sampling method for an X-ray Talbot-Lau scanner with continuous grating movement

Ludwig, V.; Akstaller, B.; Schuster, M.; Seifert, M.; Wolf, A.; Michel, T.; Anton, G.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/15/01/P01010
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000137131
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 15
Heft 01
Seiten Art.-Nr.: P01010
Vorab online veröffentlicht am 15.01.2020
Nachgewiesen in Dimensions
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