X-ray phase-imaging scanner with tiled bent gratings for large-field-of-view nondestructive testing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 07.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0963-8695 KITopen-ID: 1000137143 |
| HGF-Programm | 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen |
| Erschienen in | NDT & E international |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 105 |
| Seiten | 19–24 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |