X-ray phase-imaging scanner with tiled bent gratings for large-field-of-view nondestructive testing

Kageyama, Masashi; Okajima, Kenichi; Maesawa, Minoru; Nonoguchi, Masahiro; Koike, Takafumi; Noguchi, Manabu; Yamada, Ayuta; Morita, Enji; Kawase, Satomi; Kuribayashi, Masaru; Hara, Yukihiro; Bachche, Shivaji; Momose, Atsushi

doi:10.1016/j.ndteint.2019.04.007

X-ray phase-imaging scanner with tiled bent gratings for large-field-of-view nondestructive testing

Kageyama, Masashi; Okajima, Kenichi; Maesawa, Minoru; Nonoguchi, Masahiro; Koike, Takafumi; Noguchi, Manabu; Yamada, Ayuta; Morita, Enji; Kawase, Satomi; Kuribayashi, Masaru; Hara, Yukihiro; Bachche, Shivaji; Momose, Atsushi

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr	07.2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0963-8695 KITopen-ID: 1000137143
HGF-Programm	54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in	NDT & E international
Verlag	Elsevier
Band	105
Seiten	19–24
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus

Repository KITopen

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