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X-ray micro-tomography for investigations of brain tissues on cellular level

Khimchenko, Anna; Schulz, Georg; Deyhle, Hans; Thalmann, Peter; Zanette, Irene; Zdora, Marie-Christine; Bikis, Christos; Hipp, Alexander; Hieber, Simone E.; Schweighauser, Gabriel; Hench, Jürgen; Müller, Bert


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2237554
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 10.2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000137151
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01) ps- und fs-Strahlen
Erschienen in SPIE OPTICAL ENGINEERING + APPLICATIONS | 28 AUGUST - 1 SEPTEMBER 2016: Developments in X-Ray Tomography X. Ed.: S.R. Stock
Veranstaltung SPIE Optical Engineering + Applications (2016), San Diego, CA, USA, 28.08.2016 – 01.09.2016
Verlag SPIE
Seiten 996703
Serie Proceedings of SPIE ; 9967
Vorab online veröffentlicht am 20.09.2016
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
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