KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

MBIST-supported Trim Adjustment to Compensate Thermal Behavior of MRAM

Münch, Christopher ORCID iD icon; Yun, J.; Keim, M.; Tahoori, Mehdi B.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS50041.2021.9465383
Scopus
Zitationen: 4
Dimensions
Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-66541-849-2
ISSN: 1530-1877
KITopen-ID: 1000137498
Erschienen in Proceedings of the European Test Workshop : 26th IEEE European Test Symposium, ETS 2021, Virtual, Bruges, 24 May 2021 - 28 May 2021
Veranstaltung 26th European Test Symposium (2021), Online, 24.05.2021 – 28.05.2021
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.Nr. 9465383
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page