MBIST-supported Trim Adjustment to Compensate Thermal Behavior of MRAM
Münch, Christopher
; Yun, J.; Keim, M.; Tahoori, Mehdi B.
; Yun, J.; Keim, M.; Tahoori, Mehdi B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66541-849-2 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000137498 |
| Erschienen in | Proceedings of the European Test Workshop : 26th IEEE European Test Symposium, ETS 2021, Virtual, Bruges, 24 May 2021 - 28 May 2021 |
| Veranstaltung | 26th European Test Symposium (2021), Online, 24.05.2021 – 28.05.2021 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art.Nr. 9465383 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Dimensions Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |