NeuroScrub: Mitigating Retention Failures Using Approximate Scrubbing in Neuromorphic Fabric Based on Resistive Memories
Ahmed, Soyed Tuhin
; Hefenbrock, Michael; Münch, Christopher
; Tahoori, Mehdi B.
; Hefenbrock, Michael; Münch, Christopher
; Tahoori, Mehdi B.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-66541-849-2 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000137499 |
| Erschienen in | Proceedings of the European Test Workshop : 26th IEEE European Test Symposium, ETS 2021, Virtual, Bruges, 24 May 2021 - 28 May 2021 |
| Veranstaltung | 26th European Test Symposium (2021), Online, 24.05.2021 – 28.05.2021 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 9465446 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |