NeuroScrub: Mitigating Retention Failures Using Approximate Scrubbing in Neuromorphic Fabric Based on Resistive Memories

; Hefenbrock, Michael; Münch, Christopher

; Tahoori, Mehdi B.

Postprint

DOI: 10.5445/IR/1000137499

Veröffentlicht am 23.01.2024

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS50041.2021.9465446

Scopus
Zitationen: 2

Dimensions
Zitationen: 2

Seitenaufrufe: 25
seit 04.10.2021

Downloads: 1
seit 22.05.2024

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2021
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-66541-849-2 ISSN: 1530-1877 KITopen-ID: 1000137499
Erschienen in	Proceedings of the European Test Workshop : 26th IEEE European Test Symposium, ETS 2021, Virtual, Bruges, 24 May 2021 - 28 May 2021
Veranstaltung	26th European Test Symposium (2021), Online, 24.05.2021 – 28.05.2021
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	9465446
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus