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Control of processes with an integrator and long dead-time: The smith predictor vs. virtual sensor

Dementjev, Alexander; Stein, Denis; Kabitzsch, Klaus


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/EURCON.2009.5167754
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 05.2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1424-43861-7
KITopen-ID: 1000138116
Erschienen in Proceedings of the IEEE Region 8 Conference EUROCON. Hrsg.: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Veranstaltung IEEE EUROCON 2009 (2009), St. Petersburg, Russland, 18.05.2009 – 23.05.2009
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 984-989
Nachgewiesen in Scopus
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