Fine Grained Control Flow Checking with Dedicated FPGA Monitors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2020 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-72818-745-7 KITopen-ID: 1000138403 |
| Erschienen in | 2020 IEEE 33rd International System-on-Chip Conference (SOCC): 8-11 September 2020, Las Vegas, NV, USA (online) |
| Veranstaltung | 33rd International System-on-Chip Conference (SOCC 2020), Online, 08.09.2020 – 11.09.2020 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 219-224 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |