KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fine Grained Control Flow Checking with Dedicated FPGA Monitors

Hoppe, Augusto; Becker, Jürgen; Kastensmidt, Fernanda Lima


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/SOCC49529.2020.9524751
Scopus
Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72818-745-7
KITopen-ID: 1000138403
Erschienen in 2020 IEEE 33rd International System-on-Chip Conference (SOCC): 8-11 September 2020, Las Vegas, NV, USA (online)
Veranstaltung 33rd International System-on-Chip Conference (SOCC 2020), Online, 08.09.2020 – 11.09.2020
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 219-224
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page