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Zinc Oxide Defect Microstructure and Surface Chemistry Derived from Oxidation of Metallic Zinc. Thin Film Transistor and Sensoric Behaviour of ZnO Films and Rods

Hoffmann, Rudolf C.; Sanctis, Shawn; Liedke, Maciej O.; Butterling, Maik; Wagner, Andreas; Njel, Christian; Schneider, Jörg J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0947-6539, 1521-3765
KITopen-ID: 1000139494
Erschienen in Chemistry - a European journal
Verlag John Wiley and Sons
Band 27
Heft 17
Seiten 5312
Vorab online veröffentlicht am 04.02.2021
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