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Zinc Oxide Defect Microstructure and Surface Chemistry Derived from Oxidation of Metallic Zinc : Thin Film Transistor and Sensoric Behaviour of ZnO Films and Rods

Hoffmann, Rudolf C.; Sanctis, Shawn; Liedke, Maciej O.; Butterling, Maik; Wagner, Andreas; Njel, Christian; Schneider, Jörg J.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/chem.202005365
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0947-6539, 1521-3765
KITopen-ID: 1000139494
HGF-Programm 43.35.01 (POF IV, LK 01) Platform for Correlative, In Situ & Operando Charakterizat.
Erschienen in Chemistry - a European journal
Verlag John Wiley and Sons
Band 27
Heft 17
Seiten 5312-5312
Vorab online veröffentlicht am 04.02.2021
Schlagwörter KNMF 2019-023-027749
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