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Investigation of Radiation Damage in Silicon Sensors for the Phase-2 Upgrade of the CMS Outer Tracker

Müller-Gosewisch, Jan-Ole

Abstract:
Der CMS Outer Tracker wird für den Betrieb des HL-LHC vollständig ausgetauscht. Diese Arbeit beschäftigt sich mit den Bestrahlungstests im Zuge der Produktion neuer Siliziumstreifensensoren. Im zweiten Hauptteil wird die Streifenisolation von n-on-p Siliziumstreifensensoren näher beleuchtet. Hierbei wurde ebenfalls ein starker Fokus auf das Verhalten nach Bestrahlungen gesetzt. Zudem wurde ein TCAD Defektmodell entwickelt, um die Messungen reproduzieren und vorhersagen machen zu können.

Abstract (englisch):
The CMS Outer Tracker will be replaced entirely for the new HL-LHC upgrade. This works deals with the irradiation tests in the course of the production of new silicon strip sensors. The second main part of the thesis deals with the strip isolation of n-on-p silicon strip sensors. A focus is set on the behaviour after irradiation. In addition, a TCAD defect model has been developed that is able to replicate the measurements and can make predictions of the strip isolation.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000139648
Veröffentlicht am 08.11.2021
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 08.11.2021
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000139648
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang v, 175 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Prüfungsdatum 29.10.2021
Referent/Betreuer Prof. T. Müller
Schlagwörter Silicon sensors, Radiation damage, Synopsys TCAD, CMS, CERN, Phase-2, Outer Tracker
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