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Using the inelastic background in hard x-ray photoelectron spectroscopy for a depth-resolved analysis of the CdS/Cu(In,Ga)Se₂ interface

Hauschild, Dirk; Steininger, Ralph; Hariskos, Dimitrios; Witte, Wolfram; Tougaard, Sven; Heske, Clemens; Weinhardt, Lothar


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000139708
Veröffentlicht am 09.11.2021
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0734-2101, 1520-8559
KITopen-ID: 1000139708
HGF-Programm 56.12.11 (POF IV, LK 01) Materials - Quantum, Complex and Functional
Erschienen in Journal of vacuum science & technology / A
Verlag American Vacuum Society
Band 39
Heft 6
Seiten Article no: 063216
Vorab online veröffentlicht am 25.10.2021
Nachgewiesen in Web of Science
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