Using the inelastic background in hard x-ray photoelectron spectroscopy for a depth-resolved analysis of the CdS/Cu(In,Ga)Se₂ interface
Hauschild, Dirk
; Steininger, Ralph; Hariskos, Dimitrios; Witte, Wolfram; Tougaard, Sven; Heske, Clemens
; Weinhardt, Lothar
; Steininger, Ralph; Hariskos, Dimitrios; Witte, Wolfram; Tougaard, Sven; Heske, Clemens
; Weinhardt, Lothar
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 12.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0734-2101, 1520-8559 KITopen-ID: 1000139708 |
| HGF-Programm | 56.12.11 (POF IV, LK 01) Materials - Quantum, Complex and Functional |
| Erschienen in | Journal of vacuum science & technology / A |
| Verlag | American Vacuum Society |
| Band | 39 |
| Heft | 6 |
| Seiten | Article no: 063216 |
| Vorab online veröffentlicht am | 25.10.2021 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |