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Weak-Measurement-Induced Asymmetric Dephasing: Manifestation of Intrinsic Measurement Chirality

Snizhko, Kyrylo 1; Kumar, Parveen; Rao, Nihal; Gefen, Yuval
1 Institut für QuantenMaterialien und Technologien (IQMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.127.170401
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für QuantenMaterialien und Technologien (IQMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-9007, 1079-7114, 1092-0145
KITopen-ID: 1000139738
HGF-Programm 47.12.01 (POF IV, LK 01) Advanced Solid-State Qubits and Qubit Systems
Erschienen in Physical Review Letters
Verlag American Physical Society (APS)
Band 127
Heft 17
Seiten Art.Nr. 170401
Vorab online veröffentlicht am 18.10.2021
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