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Modified laser-induced fluorescence-dip spectroscopy for measuring weak electric fields at plasma sheats

Wang, Zhen


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsdatum 16.11.2021
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000140055
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Umfang XII, 71 S
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Prüfungsdatum 12.10.2021
Referent/Betreuer Prof. G. Müller
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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