X-ray Methods for Structural Characterization of III-V Nanowires: From an ex-situ Ensemble Average to Time-resolved Nano-diffraction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-9811590504 KITopen-ID: 1000140087 |
| HGF-Programm | 56.12.11 (POF IV, LK 01) Materials - Quantum, Complex and Functional |
| Erschienen in | Fundamental Properties of Semiconductor Nanowires. Hrsg.: Naoki Fukata, Riccardo Rurali |
| Verlag | Springer Singapur |
| Seiten | 185–250 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |