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Code-Modulated Embedded Test and Calibration of Phased-Array Transceivers

Hong, Zhangjie; Chauhan, Vikas; Schonherr, Simon; Floyd, Brian A.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TMTT.2020.3041022
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nachrichtentechnik - Communications Engineering Lab (CEL)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 03.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9480, 1557-9670
KITopen-ID: 1000140099
Erschienen in IEEE transactions on microwave theory and techniques
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 69
Heft 3
Seiten 1846–1859
Nachgewiesen in Web of Science
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