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Analyse von Störgrößen bei der Offsetkorrektur an Freiformgeometrien

Naab, Christoph


Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsdatum 11.02.2016
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000140656
Veranstaltung Mitarbeiterseminar GIK und IPF (2016), Karlsruhe, Deutschland, 11.02.2016
Schlagwörter Industrievermessung; LVM; Taktile Messtechnik; Koordinatenmesstechnik; Lasertracker; Gelenkmessarm; KMG; Tachymeter; Messunsicherheit; Offsetkorrektion; Kugelreflektor; SMR; CCR; Taster; Prismen; Modellierung; Freiformfläche; NURBS;
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