Optical Arbitrary Waveform Measurement Using Silicon Photonic Slicing Filters
Fang, D.
; Zazzi, A.; Mueller, J.; Drayss, D.
1; Fullner, C.; Marin-Palomo, P.; Tabatabaei Mashayekh, A.; Dipta Das, A.; Weizel, M.; Gudyriev, S.; Freude, W.; Randel, S.; Scheytt, J.; Witzens, J.; Koos, C.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
; Zazzi, A.; Mueller, J.; Drayss, D.
1; Fullner, C.; Marin-Palomo, P.; Tabatabaei Mashayekh, A.; Dipta Das, A.; Weizel, M.; Gudyriev, S.; Freude, W.; Randel, S.; Scheytt, J.; Witzens, J.; Koos, C.1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsdatum | 15.03.2022 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0733-8724, 1558-2213 KITopen-ID: 1000141135 |
| HGF-Programm | 43.32.03 (POF IV, LK 01) Designed Optical Devices & Systems |
| Erschienen in | Journal of Lightwave Technology |
| Verlag | Optica Publishing Group (OSA) |
| Band | 40 |
| Heft | 6 |
| Vorab online veröffentlicht am | 01.12.2021 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |