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Analysis of superconducting thin films in a modern FIB/SEM dual-beam instrument

Grünewald, Lukas ORCID iD icon; Nerz, Daniel; Langer, Marco; Meyer, Sven; Beisig, Nico; Cayado, Pablo; Popov, Ruslan ORCID iD icon; Hänisch, Jens ORCID iD icon; Holzapfel, Bernhard ORCID iD icon; Gerthsen, Dagmar


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927621003986
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 08.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 1000141772
HGF-Programm 38.05.03 (POF IV, LK 01) High Temperature Superconductivity
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 27
Heft S1
Seiten 1056–1058
Vorab online veröffentlicht am 30.07.2021
Nachgewiesen in Dimensions
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