Analysis of superconducting thin films in a modern FIB/SEM dual-beam instrument
Grünewald, Lukas
1; Nerz, Daniel 1; Langer, Marco 2; Meyer, Sven 2; Beisig, Nico 2; Cayado, Pablo 2; Popov, Ruslan
; Hänisch, Jens
2; Holzapfel, Bernhard
2; Gerthsen, Dagmar
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Nerz, Daniel 1; Langer, Marco 2; Meyer, Sven 2; Beisig, Nico 2; Cayado, Pablo 2; Popov, Ruslan
; Hänisch, Jens
2; Holzapfel, Bernhard
2; Gerthsen, Dagmar1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Physik (ITEP) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 08.2021 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276, 1435-8115 KITopen-ID: 1000141772 |
| HGF-Programm | 38.05.03 (POF IV, LK 01) High Temperature Superconductivity |
| Erschienen in | Microscopy and microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 27 |
| Heft | S1 |
| Seiten | 1056–1058 |
| Vorab online veröffentlicht am | 30.07.2021 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |