Magnetfeldabhängige Messungen der charakteristischen Eigenschaften von Nb/Al-AlO$_x$/Nb-Josephson-Kontakten
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsdatum | 29.10.2021 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000141812 |
| Art der Arbeit | Abschlussarbeit - Master |
| Prüfungsdaten | 29.10.2021 |
| Referent/Betreuer | Kempf Sebastian |