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X-ray microscopy developments at Sirius-LNLS: first commissioning experiments at the Carnauba beamline

Tolentino, Helio; Geraldes, Renan R.; Moreno, Gabriel B. Z. L.; Pinto, Artur C.; Bueno, Cassiano S.; Kofukuda, Leonardo M.; Sotero, Anna P.; Neto, Antonio C.; Lena, Francesco R.; Wilendorf, Willian H.; Baraldi, Giovanni L.; Luiz, Sergio A.; Dias, Carlos Sato Baraldi; Perez, Carlos A.; Neckel, Itamar T.; Galante, Douglas; Teixeira, Veronica C.; Hesterberg, Dean; Lai, Barry [Hrsg.]; ... mehr


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2596496
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Zitationen: 11
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Zitationen: 15
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsmonat/-jahr 09.2021
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-4517-2
KITopen-ID: 1000142559
Erschienen in X-Ray Nanoimaging: Instruments and Methods V. Ed.: B. Lai
Veranstaltung SPIE Optical Engineering + Applications (2021), San Diego, CA, USA, 01.08.2021 – 05.08.2021
Verlag SPIE
Seiten Art.-Nr.: 1183904
Nachgewiesen in Dimensions
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