Factor analysis and advanced inelastic background analysis in XPS: Unraveling time dependent contamination growth on multilayers and thin films
Gusenleitner, S.; Hauschild, D.
; Graber, T.; Ehm, D.; Tougaard, S.; Reinert, F.
; Graber, T.; Ehm, D.; Tougaard, S.; Reinert, F.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 10.2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0039-6028 KITopen-ID: 1000142791 |
| Erschienen in | Surface science |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 616 |
| Seiten | 161–165 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |